讲座预告：薄膜应力之光学力学量测

讲座题目

薄膜应力之光学力学量测

主办单位

yl8cc永利官网

讲座开始时间（年-月-日-时-分）

 2019.5.17 10:45

讲座结束时间（年-月-日-时-分）

 2019.5.17 11:30

讲座地点

 信息科技楼北907

主讲人

陈柏宇

职务

博士生

职称

博士候选人

单位

台湾清华大学动力机械工程学系

学历

台湾清华大学动力机械工程学系博士候选人

学位

博士候选人

专家情况简介

专           长：固体力学、实验力学、组件及结构分析、材料机械性质量测与测试、光学量测与检测、薄膜应力量测

奖           赏：中华民国力学学会第三十五届全国力学会议之论文竞赛佳作(2011.11)

参加对象

yl8cc永利官网物理、光电专业老师及其他感兴趣的老师、研究生、高年级的本科生。

参加人数

 约20人

主持人姓名

 周小方

主持人职称

 教授

学院名称

yl8cc永利官网

主讲内容

薄膜应力之光学力学量测介绍，系以利用光学方法量测薄膜镀制于基材上时之应力，其薄膜利用镀膜技术沉积于基材上时，因两材料有着不同之材料性质，故所组成之复合材料会产生不匹配之应力与应变，若当薄膜应力过大时，甚至会导致原件损坏，故对于薄膜应力之量测为非常重要。现今对于薄膜应力之量测，通常使用1909年Stoney所提出之方程式做计算，使用该方程式时，只需量测基材于镀膜前后之表面曲率，再代入方程式中即可求得薄膜应力，故量测得试片之表面形貌为重要之议题，因此本主讲内容主要以介绍光学量测表面形貌之技术。